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Elektronen-mikroskopie
SXES Detektor
Empfindlichkeit – wenige Dutzend ppm Bor bei Stahl Energiebereich – 50 eV bis 210 eV Höchste Auflösung – 0,3 eV Keine beweglichen Teile, wodurch eine hohe Stabilität und Reproduzierbarkeit erzielt wird Teil [...] spektrales Mapping (Quelle: Fa. Jeol ) Vergleich zwischen SXES - WDX – EDX SXES WDX EDX Auflösung 0,3 eV 8 eV 129 eV Analyse chemischer Zustände möglich möglich nicht möglich Paralleldetektion möglich [...] SDD, SiLi, Kühlsystem Peltier nicht erforderlich Peltier Empfindlichkeit 20 ppm (@B) 100 ppm (@B) 0,1 % (@B) Beispiel Unterscheidung von FeB und Fe 2 B im Gefüge © Fa. Jeol SXES Mapping, chemische Zu …