Thorsten Oeder
Bachelorarbeit, Oktober 2018 Simon Stehr Gegenüberstellung von material- und technologiebasierten Limitierungen moderner Leistungshalbleiter Fachwissenschaftliche Projektarbeit, August 2018 Publikationen Oeder [...] 10.2018 Oeder, T. ; Pfost, M. ; Castellazzi, A. ; Fayyaz, A. ; Zhu, S. : Single pulse short-circuit robustness and repetitive stress aging of GaN GITs , Reliability Physics Symposium (IRPS), 2018 IEEE [...] IEEE International, Burlingame, CA, USA, 03.2018, doi: 10.1109/IRPS.2018.8353593 Oeder, T. ; Pfost, M. : Elektrisch limitierende Eigenschaften von 600 V p-Gate GaN HEMTs , Halbleiterkolloquium, Freiburg, …
